Förderbeginn 01.07.2005

Ausnutzung höherer Beugungsordnungen zur Nanospektroskopie neuer Materialien

Prof. Dr. Rainer Fink
Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg
Lehrstuhl für Physikalische Chemie II

Prof. Dr. Janos Kirz
University of California, Berkeley
Lawrence Berkeley National Laboratory, Materials Science Division



Die Fokussierung von Röntgenstrahlen im weichen Röntgenbereich erlaubt die spektroskopische Untersuchung von dünnen Proben mit einer derzeitigen Ortsauflösung im Bereich von 35 nm. Dazu werden Fresnel-Röntgenlinsen eingesetzt und die Probe im Fokus der Linse gerastert. Der Röntgenabsorptionskontrast liefert die lokale spektroskopische Information. In Zusammenarbeit mit der Advanced Light Source (Berkeley) soll untersucht werden, wie höhere Beugungsordnungen in den bestehenden (ALS) und das von der Universität Erlangen an der Swiss Light Source (PSI, Schweiz) geplanten Transmissions-Röntgenmikroskope eingesetzt werden können und der Auflösungsverbesserung der Instrumente dienen. Der Einsatz der Geräte erfolgt im Bereich der modernen Materialforschung (molekulare Materialen, Kompositwerkstoffe), den Umwelt- und Lebenswissenschaften.